深紫外(DUV)领域的可靠计量仍具挑战性,尤其是在需要同时测量精准的 S/P 偏振分离和角度依赖特性时。 EssentOptics 为 PHOTON RT 分光光度计开发了全新的测量功能,实现了低至 185 nm 起始波长的光学薄膜高偏振分辨率表征。与传统方法不同,PHOTON RT 平台无需真空腔室或氮气吹扫,即可在低至 185 nm 的波段内提供偏振分辨测量。 在深紫外(DUV)激光器、光刻技术以及检测光学器件中,偏振态和入射角必须受到严格控制,因此准确的 S/P 偏振分离对于表征这些领域中的光学薄膜至关重要。PHOTON RT 仪器能够确保在整个深紫外波段内,对 S 和 P 偏振分量进行清晰、可靠的分离。 示例:DUV 激光反射镜在 45° 入射角下的 S 偏振和 P 偏振反射率测量 高测量重复性对于深紫外(Deep UV)光学薄膜的可靠合格认证至关重要。PHOTON RT 仪器能够提供稳定、低噪声的测试结果,并具备始终如一的重复性。 示例:在标准设置下连续进行 11 次扫描的测量结果(无平滑处理) 该测量功能的核心亮点:
该功能适用于 PHOTON RT 0217 / 0226 型分光光度计。 如果您正从事深紫外(Deep UV)光学薄膜的相关工作,欢迎联系我们,了解此功能将如何提升您的测量准确性与可靠性。 免责声明:编写或转载此文是为了传递更多的信息,为光电行业尽一些绵薄之力。若文字或图片侵犯了您的合法权益或有不当之处,请作者在20个工作日之内与我们联系,我们将协调给予处理。 联系邮箱:lm@focaloptics.com,欢迎相关行业朋友向我们投稿。谢谢。 |






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