光束质量分析仪

        产品概述

        光研科技自主研发的光束质量分析仪可实现激光光斑检测及测试应用。为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案，并支持多应用开发。光束质量分析仪装置一体化设计，配套衰减方案设计，支持实时曝光及增益调节。适用半导体激光器，固体激光器，光纤激光器，超快激光器，激光测距等领域。目前已作为成熟产品在市场推广，性价比高，得到大量客户认同。现公司研发部可根据客户不同需求进行模块化定制。

        产品光谱覆盖范围

       产品特点

       可选超宽光谱多波长系列产品，覆盖紫外到长波红外波长范围。

       较宽的光斑直径测量范围：光斑直径范围可满足目前市场大部分的光斑产品范围，部分产品支持更小光斑拓展。

       基础款光束质量分析仪测低功率的毫瓦级激光光斑，配套磁吸衰减，方便操作，也可根据不同功率激光光斑测试需求，提供可选的衰减方案，无需准备其他配件即可快速测量。

       紧凑型光斑分析仪一体化设计，配套衰减方案设计：设备自带吸收衰减装置，软件自主开发，可提供底层通讯协议。

       高性价比，可代替进口激光光束质量分析仪，实现激光光斑检测及测试应用。

       产品功能

　　Beamfiler是一款用于Windows系统的激光光束分析产品，其特点以及功能包括：

　　高速度、高分辨率显示2D和3D伪彩色光束轮廓

　　支持Windows XP Service Pack 3或更高版本的操作系统

　　支持控制相机的曝光、增益和分辨率

　　实时进行光斑的伪彩色2D显示、长短轴的高斯曲线显示

　　支持2D模式下的连续缩放

　　测量光斑的长短轴、椭圆率、旋转角等参数

　　支持参数的统计分析

　　记录和导出参数，或者生成报告

　　读取光斑图片并测量参数

　　多选择的图片保存功能

　　支持USB3.0接口

　　可定制拓展功能

      组成部件

      传感器，配备数据连接线

      Beamfiler操作软件

      可选衰减配件

咨询和订购热线：15172359028（微信同号）