Photon RT紫外-可见-中波红外膜层透反仪  产品优点 宽光谱测量：紫外（185nm）到中波红外（5200nm）波段实现变角度和偏振态测量 标定：一键标定，测量透过率/反射率过程中光的入射角度改变时，无需进行基线再校准 步进精度：样品台和光电探测器配备的高精度旋转驱动，其步进角度为0.01° 可自动进行探测器横向位置补偿（±50mm），用于进行厚样品的轴外透过率测试以及复杂棱镜的透过率、反射率测试 内置氮气吹扫管道 色坐标计算（CIE 1931,CIE 1964,及其它光源） 可选配批量测试或位置可调夹具 可对单层均质膜进行NKD计算 变角度测试及位移补偿  探测器横向补偿范围可达±50mm，平面样品可使用软件自带的计算功能计算位置偏差  多功能夹具  可选波段范围 1.185-1700 2.380-1700 3.185-3500 4.380-3500 5.380-3500 6.185-5200  Photon rt红外光源与卤素灯基线对比  红外光源与卤素灯测试曲线对比(铝膜）  红外光源与卤素灯测试曲线对比(宽带滤光片)  内置高对比度宽带起偏器 配置： 380-2200nm 220-2200nm 2000-5200nm（独家） 380-5200nm（独家） 起偏器出厂前已内置于设备， 可通过软件控制  多角度测量及定性和定量的膜层分析  LINZA150镜片/镜头组测试分光光度计  产品功能与特点 可对单镜片（凹/凸）进行快速轴上透过率测试 可对镜头组进行快速的轴上测试 可对凸/凹面镜的任意区域进行无人值守的轴上/轴外反射率测试 不需任何配件 产品特性 测量镜头最大/小孔径 透射：10-150mm 反射：10-90mm 反射率测试样品曲率半径范围：15mm-∞ 透过率测试样品焦距范围：20 mm-∞ 透过率测试最大镜头尺寸:240 mm（L）×150mm(⌀) 离轴最大测量反射转角:55° 有效波长范围,nm:380-1700 nm,185-1700 nm,       AKRA单波长光控设备 为监控镀膜沉积过程设计 光谱范围200-5000nm  IRIS宽波段光控设备 光谱范围190-2450nm  该产品电话和微信咨询方式： 15172359028（微信同号） |
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