光斑分析仪：Beamfiler UV系列

　　光研科技南京有限公司自主研发的光斑分析仪可实现激光光斑检测及测试应用。为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案，并支持多应用开发。光束质量分析仪装置一体化设计，配套衰减方案设计，支持实时曝光及增益调节。适用半导体激光器，固体激光器，光纤激光器，超快激光器，激光测距等领域。目前已作为成熟产品在市场推广，性价比很高，得到大量客户认同。现公司研发部可根据客户不同需求进行模块化定制。

　　产品特点

　　1.可选超宽光谱多波长系列产品，覆盖紫外到长波红外波长范围。

　　2.较宽的光斑直径测量范围：光斑直径范围可满足目前市场大部分的光斑产品范围，部分产品支持更小光斑拓展。

　　3.光斑分析仪一体化设计，配套衰减方案设计：设备自带吸收衰减装置，测低功率的毫瓦级激光光斑，也可根据不同功率激光光斑测试需求，提供可选的衰减方案，无需准备其他配件即可快速测量。

　　4.软件自主开发，可提供底层通讯协议。

　　5.高性价比，可代替进口激光光束质量分析仪，实现激光光斑检测及测试应用。

　　产品光谱覆盖范围

　　需求定制

　　可为客户定制不同需求的光斑分析仪，满足不同的激光光束直径和激光功率测试需求。

　　性能特点：

　　➢适用于190~1100nm光谱范围内的光斑测量

　　➢两款不同探测面积产品可选，探测面积可达2/3ʺ

　　➢高分辨率，像素大小3.45μm

　　➢支持手动和自动实时曝光及增益调节

　　➢数据接口USB3.0，GigaEthernet

　　产品主要组成部分

　　1，光斑仪系列产品

　　BeamfilerUV系列

　　BeamfilerNIR系列

　　BeamfilerSWIR系列

　　BeamfilerLWIR系列

　　2，光斑分析仪软件

　　3，光斑分析仪配件

　　吸收型衰减器

　　紧凑型衰减模块

　　高功率衰减器