光束质量分析仪

        产品概述

        光研科技自主研发的光斑分析仪可实现激光光斑检测及测试应用。为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案，并支持多应用开发。

        通过光束分析装置一体化设计，配套衰减方案设计，可测直径低至40um光斑，支持实时曝光及增益调节。该系统可以对连续可见激光光斑进行采样，分析得到激光光斑中心，半径，椭圆比等，并对光强能量场进行二维和三维显示。

       可广泛用于需要对激光光斑形状进行检测得场合，如激光生产，维护以及激光应用。也常用于光学器件质量检查，激光腔镜调整，外光路准直，光纤对准耦合分析等。目前已作为成熟产品在市场推广，性价比很高，获得大量客户认同。

       标准产品

       标准产品参数（硬件参数）

       标准产品参数（软件功能）

        需求定制

        光斑尺寸及功率定制

        可为客户定制不同需求的光斑分析仪，不同的激光束直径，激光功率等。

        基础款：可测试直径40um-4.5mm光斑

        定制款A：可测直径约6mm光斑

        定制款B ：可测直径约9mm光斑

        基础款可测低功率的毫瓦级激光，我们也可定制大功率激光测试需求，通过客户的激光功率，提供最适合的衰减方案，最大功率可至400W。

        二次开发

        软件支持二次开发，可根据客户的定制需求，提供底层通讯协议，扩展客户所需要的功能，实现深度定制。

        我司针对CO2激光器和光通信激光器用的光斑分析仪也正在加紧研发中。（面世在即，敬请期待……）

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