用于多区域滤光片的光谱测量！EssentOptics推出全新XY-MZF电动位移台 ...

　　用于多区域滤光片光谱测量的全新XY-MZF电动位移台

　　地球观测和遥远感技术的高速发展与普及，催生了越来越多能够为这些应用提供尖端、定制化薄膜光学镀膜的企业。此类镀膜通常将从可见光到短波红外（SWIR）的光谱区域划分为不同的区域。通过沉积多层薄膜结构，来选择特定的通道并将其在基底上进行空间分布。最终产品往往在尺寸、光谱性能以及区域的数量、大小和位置上进行定制，以满足不同客户的需求。

　　验证完工后的多区域滤光片的光谱性能，是计量领域面临的一个真实挑战。单个区域的宽度可能小于1.0 mm，因此必须使用极窄的光斑才能对该区域进行精准检测。区域的布局通常是根据客户需求量身定制的。由于没有“一劳永逸”的通用设计，每个测量流程都必须提前进行精细开发。此外，滤光片的尺寸也会根据相匹配的探测器阵列而有所不同。其中一些滤光片不仅需要在每个区域的中心通过质量控制，还需要在靠近滤光片边缘的位置进行检测。

　　传统的多区域滤光片测量过程往往伴随着严重的时间浪费、繁琐的人工操作，并且存在测量结果不准确的潜在风险。

　　EssentOptics开发了XY-MZF电动位移台，专门专注于对多区域滤光片以及线性渐变滤光片（包括连续渐变和阶梯渐变滤光片）进行快速、自动化（无人值守）且高质量的光谱测量。

　　该位移台最大可容纳50.0 x 40.0 mm尺寸的基底。单个滤光片区域的宽度可以小至0.7 mm。每个滤光片的区域数量不受限制。通过计算机控制的XY映射（Mapping）技术，几乎可以测量单个区域的任何部位。区域检测与区域测量均可在单次运行中同步完成。

　　XY-MZF位移台需要与PHOTON RT分光光度计配合使用。PHOTON RT分光光度计是目前市场上唯一一款专为平面基底薄膜的UV-VIS-MWIR（紫外-可见-中红外）光谱测量而设计的一体化仪器。

　　它具备一系列独特的、满足用户理想需求的性能，包括低噪声的透射比和绝对镜面反射比测量、无人值守的可变角度和宽带偏振相关测量、内置的光束偏移自动调整功能，以及对复杂棱镜的测量。

　　如果您有分光光度计的需求，我们这里有全新样机，RT0252的样机正在促销中，价格肯定让您满意，欢迎（电话：15527499560）进行咨询。

     免责声明：编写或转载此文是为了传递更多的信息，为光电行业尽一些绵薄之力。若文字或图片侵犯了您的合法权益或有不当之处，请作者在20个工作日之内与我们联系，我们将协调给予处理。

      联系邮箱：lm@focaloptics.com，欢迎相关行业朋友向我们投稿。谢谢。