Photon RT紫外-可见-中波红外膜层透反仪 产品优点 宽光谱测量:紫外(185nm)到中波红外(5200nm)波段实现变角度和偏振态测量 标定:一键标定,测量透过率/反射率过程中光的入射角度改变时,无需进行基线再校准 步进精度:样品台和光电探测器配备的高精度旋转驱动,其步进角度为0.01° 可自动进行探测器横向位置补偿(±50mm),用于进行厚样品的轴外透过率测试以及复杂棱镜的透过率、反射率测试 内置氮气吹扫管道 色坐标计算(CIE 1931,CIE 1964,及其它光源) 可选配批量测试或位置可调夹具 可对单层均质膜进行NKD计算 变角度测试及位移补偿 探测器横向补偿范围可达±50mm,平面样品可使用软件自带的计算功能计算位置偏差 多功能夹具 可选波段范围 1.185-1700 2.380-1700 3.185-3500 4.380-3500 5.380-3500 6.185-5200 Photon rt红外光源与卤素灯基线对比 红外光源与卤素灯测试曲线对比(铝膜) 红外光源与卤素灯测试曲线对比(宽带滤光片) 内置高对比度宽带起偏器 配置: 380-2200nm 220-2200nm 2000-5200nm(独家) 380-5200nm(独家) 起偏器出厂前已内置于设备, 可通过软件控制 多角度测量及定性和定量的膜层分析 LINZA150镜片/镜头组测试分光光度计 产品功能与特点 可对单镜片(凹/凸)进行快速轴上透过率测试 可对镜头组进行快速的轴上测试 可对凸/凹面镜的任意区域进行无人值守的轴上/轴外反射率测试 不需任何配件 产品特性 测量镜头最大/小孔径 透射:10-150mm 反射:10-90mm 反射率测试样品曲率半径范围:15mm-∞ 透过率测试样品焦距范围:20 mm-∞ 透过率测试最大镜头尺寸:240 mm(L)×150mm(⌀) 离轴最大测量反射转角:55° 有效波长范围,nm:380-1700 nm,185-1700 nm, AKRA单波长光控设备 为监控镀膜沉积过程设计 光谱范围200-5000nm IRIS宽波段光控设备 光谱范围190-2450nm 该产品电话和微信咨询方式: 15172359028(微信同号) |
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