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干涉仪只能测量局部光圈，不能用来修改高低光圈，因测量时离焦量是可调节的，与光圈信息混在了一起无法分辨。

干涉儀是可以測量鏡片的高低光圈的呀

引用:

下面引用由mahubble在 2003/05/09 00:11am 发表的内容：
干涉仪只能测量局部光圈，不能用来修改高低光圈，因测量时离 ...

干涉仪当然不能用来修改高低光圈，因为干涉仪只是测量用的仪器，而修改是需要用机器设备的。
不过正如楼上所说的，干涉仪是可以测量高低光圈的，不仅仅只用于测量局部光圈，可以根据测得的高低光圈对抛光设备进行相应的调整，就可以修改工件的高低光圈了。