供应高性能哈特曼传感器1

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哈 特 曼 波 前 传 感 器系列
该设备利用哈特曼—夏克测量原理研制而成，并配备专用操作与分析软件，可用于激光光束质量及其动态变化的诊断，光学系统像质检验，扰动介质对光束影响的测量，大型球面镜镜面面形精度检测等。
利用本设备可以获得丰富的光束质量空间—时间信息，是深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程，分析影响因素的有力手段，并成为检测各类大型反射镜镜面面形的一种专用设备。
应用领域：
        常规光学件面形检测（平面、球面、透镜等）
        大口径光学件检测
        光学系统像差检测
        激光器输出波面检测
        光束质量诊断
        光束动态变化测量
        自适应系统的波前探测
特点：
        可替代数字干涉仪和光束诊断仪
        抗环境干扰（震动、气流、温湿度）能力强
        对测量光没有相干性要求，可对单色光和白光测量
        测量速度快，25帧/秒，可连续测量
        可脱离参考光工作
        没有移动部件，结构紧凑
        测量参数全面，功能强大
        界面友好，操作简单
        较低价格，高性价比
研制并投入使用的各类哈特曼传感器近20 种
•        工作波长:0.308微米到3.8微米
•        采样频率：从静态到6500Hz
•        最大子孔径数：128×128
•        通光孔径：Φ4.16—Φ300mm
•        光强范围：从光子计数水平的微光到普通光
•        可分析的像差模式阶数：65阶Zernike
•        测量重复性：RMS优于1/250波长，PV优于1/50波长
•        与Zygo干涉仪比对互差：RMS小于1/50波长，PV小于1/10波长
1.测量口径：φ120mm 、φ30mm
哈特曼阵列数：16*16、8 *8(可切换）
最高采集帧频：6500帧
对准功能：粗、精对准
2.测量口径：φ160mm
哈特曼阵列数：30*30
采集帧频：25帧
对准功能：粗、精对准
双波长(0.635μm\1.315μm)哈特曼测量
双波长(0.635μm\1.315μm)远场测量
3.测量口径：φ120mm
哈特曼阵列数：32*32
采集帧频：25帧
对准功能：粗、精对准
双波长(0.635μm\1.315μm)哈特曼测量
双波长(0.635μm\1.315μm)远场测量

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laserwin@163.com
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